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michael b hintz

1 cilt bulundu.

Cilt sonuçları

CiltAnwendbarkeit der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) zur Untersuchung der Fremddiffusion, dargestellt am Beispiel der Volumendiffusion von In und Al in Ni-Einkristallen und der Korngrenzendiffusion von In in orientierten Ni-ZweikristallenMichael B. Hintz

Anwendbarkeit der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) zur Untersuchung der Fremddiffusion, dargestellt am Beispiel der Volumendiffusion von In und Al in Ni-Einkristallen und der Korngrenzendiffusion von In in orientierten Ni-Zweikristallen

Michael B. Hintz · Yayınevi bilinmiyor

128 sayfa · 1979

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