Yazar
Moises Padilla
1 cilt bulundu.
Cilt sonuçları
Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology
Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, Moises Padilla · Wiley & Sons, Incorporated, John
344 sayfa · 2014
Interferometry / Optical measurements
Yükleniyor
Yükleniyor
Yazar
1 cilt bulundu.
Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, Moises Padilla · Wiley & Sons, Incorporated, John
344 sayfa · 2014
Interferometry / Optical measurements