Yazar
rodney x sturdivant
2 cilt bulundu.
Cilt sonuçları
Applied Logistic Regression
Stanley Lemeshow, Rodney X. Sturdivant, Hosmer, David W., Jr. · Wiley & Sons, Incorporated, John
Sayfa sayısı yok · 2004
Regression analysis
Yükleniyor
Yükleniyor
Yazar
2 cilt bulundu.
Stanley Lemeshow, Rodney X. Sturdivant, Hosmer, David W., Jr. · Wiley & Sons, Incorporated, John
Sayfa sayısı yok · 2004
Regression analysis